测量仪

应力测量仪

美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等

应力测量仪光学仪器光学元件激光晶体玻璃制造 2022-12-19

光腔衰荡法CRD高反射率测量系统

德国IPHTCRD高反射率测量系统一、 CRD光腔衰荡测量高反射率原理 1．高反射率测量现状

光腔衰荡法 CRD高反射率光学测量系统激光腔镜生物诊断学 2022-12-19

CRD高反射率测量仪

针对高反射率（R＞99．7％）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring－Down Spectroscopy，CRDS）CRD高反射率测量仪，它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差，大大提高了测量精度

CRD高反射率测量仪光腔衰荡光谱法信号检测脉冲激光光学零部件 2022-12-19

光学经典导读之十 Ultrafast Lasers 第十章脉冲宽度测量

Ultrafast Lasers是由瑞士苏黎世联邦理工学院的Ursula Keller教授于2021年出版的最新著作。Keller教授的研究方向为超快激光物理，这本书是她近30年研究与教学的总结。该书共有12章，全面介绍了超快激光基本原理以及各种激光技术和实际应用

光谱脉冲测量干涉仪光电探测器 2022-10-24

昊然伟业：Hinds Exicor双折射测量技术

美国Hinds Instruments的Exicor?双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是美国Hinds Instruments的PEMLabs?技术的产品，该技术推出了超低双折射光弹性调制器（PEM）

光学系统电子模块 2022-05-20

昊然伟业：Hinds 应力双折射测量系统

美国Hinds的双折射测量技术已经被很多行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm，这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求

光学材料光学元件 2022-05-05

昊然伟业：德国角分辨散射测量系统

德国Fraunhofer IOF以激光为光源，测量角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF，双向透射分布BTDF，散射损耗，反射，透射等；对表面、薄膜以及材料性质进行表征和分析；可进行在线或离线测量。特

散射光测量系统 2022-04-22

东京大学打造新型拉曼光谱技术，可同时测量两种类型的振动信号

近日，东京大学的研发人员成功打造出了一种称为“双探测脉冲振动光谱”(DIVS)的拉曼光谱技术，这种技术可以同时测量两种类型的振动信号。

拉曼光谱光学 2022-03-18

GOM光学三维测量案例：如何实现迭代少而质量优？

自从德国巴伐利亚塑料技术公司OECHSLER AG（裕克施乐）发明了电子驻车制动系统（EPB），现代汽车的驾驶员不再需要通过手动拉动驻车制动器来辅助艰难的上坡起步。制动器的核心部件是一个由塑料制成的齿轮单元

测量三维 Oechsler 2021-08-03

应力测量仪主要应用和介绍

美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等

应力测量仪玻璃应力测量残余应力双折射 2020-12-24

浅谈穆勒矩阵测量

在同一台仪器中采用四个光弹性调制器（PEM），150XT Mueller偏振计可以在几分之一秒内同时测量所有十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。Hinds 仪器公司产品系列的这一新增功能可应用于学术和工业研究、光学元件特性、制造和质量控制

穆勒矩阵测量仪穆勒椭偏仪 2020-12-14

弱吸收测量的主要方法及优缺点对比

1．测量材料吸收系数的意义：随着高能激光的发展，对光学材料提出越来越高的要求，而光学材料由于制造工艺（生长工艺）、原材料杂质的存在，不可避免的存在吸收。随着光学材料研究的进一步深入，人们对于材料吸收系数的研究越来越深刻

弱吸收测量仪材料光学 2020-11-18

LMI Technologies公司宣布收购芬兰光学测量设备制造商FocalSpec

2019年11月1日／不列颠哥伦比亚省温哥华市 – 作为全球领先的3D扫描和检测解决方案开发商，LMI Technologies（LMI）正式宣布收购FocalSpec，该公司是一家创新性的光学测量设备制造商，总部位于芬兰，致力于设计和制造已获专利的线共焦（LCI）传感器

guLMI Technologies 2019-11-04

我国自主研制的近红外天光背景测量仪在南极投入运行

我国红外天文研究发展受限于优良台址和探测器的缺乏。随着近年来我国天文研究领域的不断扩展，中国天文界拥有红外天文观测能力的愿望也更加迫切。

近红外天光背景测量仪 2019-03-02

Radiant推出近红外光（NIR）辐射强度测量解决方案

2019年1月9日，照明和显示器视觉测试与测量系统的领先提供商Radiant Vision Systems宣布发布一款全新的近红外光（NIR）辐射强度测量镜头，可用于测量面部识别和眼动追踪等不可见的3D传感应用中使用的NIR发射LED和激光光源。

Radiant 近红外光 3D传感 2019-01-09

了解一下两种电致发光器件EQE测量方法

电致发光，是通过加在两电极的电压产生电场，被电场激发的电子碰击发光中心，而引致电子在能级间的跃迁、变化、复合导致发光的一种物理现象。

OLED 外量子效率电致发光 2018-04-18