侵权投诉
订阅
纠错
加入自媒体

PCI-弱吸收

2022-12-19 13:36
昊然伟业
关注

公司自主研发PCI弱吸收-共光路干涉弱吸收测量仪,PCI弱吸收测量精度高,单次测量可实现体和面吸收分开,测量速度快并可实现面扫描,可测量不同入射角的膜吸收。

PCI-弱吸收

特点

精度高:1 ppm

一次测量可以区分体、面吸收

扫描速度快(几分钟)

对样品规格要求不高

操作方便、简单

应用

光学薄膜

光学晶体材料

光学镜片

性能

测量晶体(LBO、YVO4、KTP...)或光学产品(K9、BK7、UVFS...)内部材料的弱吸收(体吸收)

测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收


       原文标题 : PCI-弱吸收

声明: 本文由入驻维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

发表评论

0条评论,0人参与

请输入评论内容...

请输入评论/评论长度6~500个字

您提交的评论过于频繁,请输入验证码继续

暂无评论

暂无评论

光学 猎头职位 更多
文章纠错
x
*文字标题:
*纠错内容:
联系邮箱:
*验 证 码:

粤公网安备 44030502002758号