残余应力
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昊然伟业：Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds的双折射测量技术已经被很多行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求
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应力测量仪主要应用和介绍
美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等
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