双折射
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昊然伟业:Hinds Exicor双折射测量技术
美国Hinds Instruments的Exicor?双折射测量技术于1999年推出,型号为150AT,为客户提供技术,具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是美国Hinds Instruments的PEMLabs?技术的产品,该技术推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)
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昊然伟业:Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds的双折射测量技术已经被很多行业采用,以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0.001nm分辨率下测量光阻,最低噪声为0.005nm, 这些系统是强大的、动态的和可扩展的,可以满足您的的应用需求
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肖特正式发布高折射率AR光学晶圆
日前,国际科技集团肖特(SCHOTT AG)在上海正式面向中国市场介绍、发布了其突破性的高折射率光学圆晶SCHOTT Realview。这是一款可以带了更逼真的AR体验的镜片。
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