残余应力
-
-
-
昊然伟业：Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds的双折射测量技术已经被很多行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求
-
应力测量仪主要应用和介绍
美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等
相关标签
换一批
最新活动更多 >
-
11月起立即报名>> 光电类专业2025年秋季空中双选会
-
直播中立即观看>> 【线上&线下同步会议】领英 跃迁向新 年度管理者峰会
-
11月28日立即报名>>> 2024工程师系列—工业电子技术在线会议
-
11月29日立即预约>> 【上海线下】设计，易如反掌—Creo 11发布巡展
-
即日-11.30免费预约申请>>> 燧石技术-红外热成像系列产品试用活动
-
11月30日立即试用>> 【有奖试用】爱德克IDEC-九大王牌安全产品
最新招聘
更多
