残余应力
-
-
-
昊然伟业：Hinds 应力双折射测量系统
美国Hinds的双折射测量技术已经被很多行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求
-
应力测量仪主要应用和介绍
美国Hinds Instruments研发基于PEM光弹调制原理的Exicor高精度应力双折射测量系统、Microlmager应力测量显微镜、穆勒矩阵测量仪、偏振测量仪、各向异性测量仪、消光比测量仪、PEM光弹调制器、锁相放大器等
相关标签
换一批
最新活动更多 >
-
4月27日马上预约>> 【盛雄激光】500W皮秒全激光高速制片、叠片一体方案
-
即日-4.30免费预约申请>> 艾睿光电-开阳及瑶光系列专家级红外热像仪-产品试用
-
4月30日免费下载 >> SPM31智能功率模块助力降低供暖和制冷能耗，打造可持续未来！
-
5月16日火热报名>>> OFweek锂电/半导体行业数字化转型在线研讨会
-
5月22日立即报名>>> OFweek 2024新周期显示技术趋势研讨会
-
限时免费下载立即下载>> OFweek 2024锂电产业高质量发展蓝皮书
