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薄膜干涉在检查光学元件表面时应用的分析与探讨

2012-12-18 09:58
逆光飞舞
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  当观察到图 2(e)所示的条纹时,说明球面既有不规则的区域又有半径误差。这两种缺陷都会影响仪器的成像质量,但比较起来,由于半径误差而产生的影响较小。因此磨 的透镜表面在半径上可以允许有一些偏差。通常,对于中等精度的光学元件,如果用样板检查时看到整个透镜表面有3-5条圆形条纹,还是允许的。但是透镜表面的规则程度要求则较高,因其对成像质量的影响比较严重。

  根据以上对条纹形状的分析,我们可以得知被检表面存在的缺陷,从而在此基础上进行相应的磨制,最终达到我们所需要的标准的平面或球面。
 

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